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    EMIC愛美克紫外線強(qiáng)度計UV-D3

    更新時間:2024-07-31

    簡要描述:

    EMIC愛美克紫外線強(qiáng)度計UV-D3
    EMIC愛美克 UV-D3 紫外線強(qiáng)度計
    磁粉探傷用補助機(jī)材

    型號:廠商性質(zhì):經(jīng)銷商瀏覽量:1360
    品牌其他品牌貨號UV-D3
    規(guī)格1供貨周期一個月以上
    主要用途紫外線強(qiáng)度計應(yīng)用領(lǐng)域環(huán)保,電子/電池

    EMIC愛美克紫外線強(qiáng)度計UV-D3

    EMIC愛美克紫外線強(qiáng)度計UV-D3

     EMIC愛美克 UV-D3 紫外線強(qiáng)度計

    磁粉探傷用補助機(jī)材

    紫外線強(qiáng)度計?。眨郑模?/h4>

    ソーラーパネルの採用により、消費電力大幅削減
    0~45mW/cm2の超ワイドレンジ
    ピークホールド機(jī)能により、測定者を選ばない

    用途

    ●蛍光探傷に必要な紫外線の強(qiáng)度測定
     

    測定範(fàn)囲0.00~45.00mW/cm2
    精度0.00~6.00mW/cm2 : ±0.30mW/cm2
    機(jī)能

    ?ピークホールド、ホールド
    ?スケールオーバー、バッテリー不足表示
    ?自動電源OFF

    外形寸法W95mm×D135mm×H27mm
    付屬品収納ケース、取扱説明書 各1部

    通過VMU-LB和固定倍率觀察用相機(jī)卡口的
    組合,能夠?qū)ν晃恢靡圆煌堵释瑫r觀
    察。
    (低倍率側(cè):2/3型、高倍率側(cè):1/2型等)

    通過與YAG激光(1064nm、532nm、355nm、266nm)物鏡組合,可實現(xiàn)高精度、高
    品質(zhì)加工。
    與簡易支架一起使用,還可作為緊湊型顯微鏡使用。
    ★保護(hù)膜、有機(jī)薄膜等的剝離
    ★金、鋁等金屬配線切割、下層圖案的外露
    ★FPD的各種缺陷修正
    ★光掩模修正
    ★標(biāo)記、修剪、圖像形成、局部退火、劃線



    憑借長動作距離設(shè)計的物鏡,實現(xiàn)優(yōu)異的操作性。
    與定位器、探針臺等組合





     

     

     

     

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