EMIC愛美克渦流探傷儀ET-5042 ET-5032

更新時(shí)間：2024-07-31

簡要描述：

EMIC愛美克渦流探傷儀ET-5042 ET-5032
EMIC愛美克ET-5042 ET-5032渦流探傷儀

型號：廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商瀏覽量：1091

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品牌	其他品牌	貨號	ET-5042
規(guī)格	1	供貨周期	一個(gè)月以上
主要用途	渦流探傷儀	應(yīng)用領(lǐng)域	環(huán)保,電子/電池

EMIC愛美克渦流探傷儀ET-5042 ET-5032

EMIC愛美克 ET-5042 ET-5032 渦流探傷儀

渦電流探傷器

ＥＴ－５０４２（４ＣＨ）／ＥＴ－５０３２（３ＣＨ）／ＥＴ－５０２２（２ＣＨ）

矢量LCD顯示屏適合自動探傷
配備各種條件設(shè)定顯示（通過直接鍵開關(guān)即可輕松進(jìn)行條件設(shè)定）
通過將自動探傷系統(tǒng)集成到現(xiàn)有的檢查運(yùn)輸線中，可以輕松進(jìn)行配置
可以同時(shí)進(jìn)行4個(gè)自動探傷
通過可選功能從外部選擇預(yù)先設(shè)置的條件，并且還可以進(jìn)行瑕疵檢測（也提供2ch和3ch）

電源入力	ＡＣ100～240V 50／60Hz *大300VA
試験周波數(shù)	標(biāo)準(zhǔn)256KHz
感度範(fàn)囲	0～60dB　0.2dBステップ可変
位相範(fàn)囲	0～359.5゜0.5°ステップ
バランス	追従式オートバランス（バランススピード８段階可変式）
外形寸法	H320mm×H177mm×D280mm（突起部除く）
質(zhì)量	約7.5kg

EMIC愛美克渦流探傷儀ET-5042 ET-5032

通過VMU-LB和固定倍率觀察用相機(jī)卡口的
組合，能夠?qū)ν晃恢靡圆煌堵释瑫r(shí)觀
察。
(低倍率側(cè)：2/3型、高倍率側(cè)：1/2型等)

通過與YAG激光(1064nm、532nm、355nm、266nm)物鏡組合，可實(shí)現(xiàn)高精度、高
品質(zhì)加工。
與簡易支架一起使用，還可作為緊湊型顯微鏡使用。
★保護(hù)膜、有機(jī)薄膜等的剝離
★金、鋁等金屬配線切割、下層圖案的外露
★FPD的各種缺陷修正
★光掩模修正
★標(biāo)記、修剪、圖像形成、局部退火、劃線