Mitutoyo三豐物鏡套件D2 378-932

Mitutoyo三豐物鏡套件D2 378-932

 鏡頭套件
鏡頭套件D1 378-931 BD Plan Apo 10×、20×、50×、100× 4件套
鏡頭套件D2 378-932 BD Plan Apo 2×、5×、10×、SL20× 4件套

 上述規(guī)格欄中的分辨力和物鏡單體焦深是根據(jù)基準(zhǔn)波長(λ＝0.55μm)計(jì)算得出的值。
※1 觀察反射率較低的檢測對象時(shí)，建議搭配使用1/4波長板B和偏光裝置。注)工作距離會(huì)縮短4mm。

 BD Plan Apo
BD Plan Apo 2× ※1 378-831-7 0.055 34.0 100 5.0 91 12 2.4×3.2 340
BD Plan Apo 5× 378-832-7 0.14 34.0 40 2.0 14 4.8 0.96×1.28 350
BD Plan Apo 7.5× 378-830-7 0.21 34.0 26.67 1.3 6.2 3.6 0.64×0.85 350
BD Plan Apo 10× 378-833-7 0.28 34.0 20 1.0 3.5 2.4 0.48×0.64 350
BD Plan Apo 20× 378-834-7 0.42 20.0 10 0.7 1.6 1.2 0.24×0.32 400
BD Plan Apo 50× 378-835-7 0.55 13.0 4 0.5 0.9 0.48 0.10×0.13 440
BD Plan Apo 100× 378-836-7 0.70 6.0 2 0.4 0.6 0.24 0.05×0.06 460
BD Plan Apo HR
BD Plan Apo HR 50× 378-845-7 0.75 5.2 4 0.4 0.49 0.48 0.10×0.13 530
BD Plan Apo HR 100× 378-846-7 0.90 1.3 2 0.3 0.34 0.24 0.05×0.06 545
鏡頭套件
鏡頭套件D1 378-931 BD Plan Apo 10×、20×、50×、100× 4件套
鏡頭套件D2 378-932 BD Plan Apo 2×、5×、10×、SL20× 4件套
鏡頭套件D3 378-933 BD Plan Apo 5×、10×、20×、50× 4件套
●上述規(guī)格欄中的分辨力和物鏡單體焦深是根據(jù)基準(zhǔn)波長(λ＝0.55μm)計(jì)算得出的值。
※1 觀察反射率較低的檢測對象時(shí)，建議搭配使用1/4波長板B和偏光裝置。注)工作距離會(huì)縮短4mm。

 Mitutoyo三豐顯微鏡單元
日本三豐物鏡(紫外、近紫外、可視、近紅外)
用于半導(dǎo)體、電子、液晶相關(guān)等產(chǎn)品的生產(chǎn)
品質(zhì)管理系統(tǒng)、實(shí)驗(yàn)研究裝置使用的光學(xué)系統(tǒng)
外觀檢查系統(tǒng)的嵌入式光學(xué)單元
微生物等運(yùn)動(dòng)物體的觀察 等
可安裝數(shù)碼相機(jī)，通過外部顯示器進(jìn)行觀察和拍攝。
可實(shí)現(xiàn)橫向水平、上下顛倒等高自由度的固定方法。
與簡易支架一起使用，還可作為緊湊型顯微鏡使用。
★金屬、樹脂、印刷面等表面觀察拍攝

 通過VMU-LB和固定倍率觀察用相機(jī)卡口的
組合，能夠?qū)ν晃恢靡圆煌堵释瑫r(shí)觀
察。
(低倍率側(cè)：2/3型、高倍率側(cè)：1/2型等)

憑借長動(dòng)作距離設(shè)計(jì)的物鏡，實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的操作性。
與定位器、探針臺等組合。
通過與激光加工裝置組合，還可支持不良分析→部分修正無縫銜接的系統(tǒng)。
此外，還提供支持隔著玻璃的、真空內(nèi)的外觀檢查的系統(tǒng)

視頻顯微鏡單元
VMU 
大視場視頻顯微鏡單元
WIDE VMU 

精密顯微鏡單元
FS70 
明視場用物鏡
(長工作距離
)
M Plan Apo/M Plan Apo HR 
明視場用物鏡
(超長工作距離
)
M Plan Apo SL 
明視場用物鏡
(玻璃厚度校正)
G Plan Apo
明暗視場物鏡
(長工作距離)
BD Plan Apo/BD Plan Apo HR
明暗視場物鏡
(超長工作距離
Mitutoyo三豐物鏡套件D2 378-932