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    日本三豐顯微鏡VMU-V 378-505

    更新時間:2024-07-30

    簡要描述:

    日本三豐顯微鏡VMU-V 378-505
    顯微鏡
    觀察、測量和處理系統(tǒng)化的顯微鏡陣容

    型號:廠商性質(zhì):經(jīng)銷商瀏覽量:2273
    品牌其他品牌價格區(qū)間1萬-5萬
    產(chǎn)地類別進口應(yīng)用領(lǐng)域環(huán)保

    日本三豐顯微鏡VMU-V 378-505 

    使用示例:半導(dǎo)體、電子、液晶相關(guān)等產(chǎn)品的生產(chǎn) 品質(zhì)管理系統(tǒng)、實驗研究裝置使用的光學(xué)系統(tǒng) 外觀檢查系統(tǒng)的嵌入式光學(xué)單元 微生物等運動物體的觀察 等

    可安裝數(shù)碼相機,通過外部顯示器進行觀察和拍攝。 可實現(xiàn)橫向水平、上下顛倒等高自由度的固定方法。 與簡易支架一起使用,還可作為緊湊型顯微鏡使用。 ★金屬、樹脂、印刷面等表面觀察拍攝 ★微量流體分析用光學(xué)系統(tǒng) ★以觀察和分析細胞、微生物等為目的的光學(xué)系統(tǒng)

    VMU

    378 系列 — 視頻顯微鏡系統(tǒng)

    顯微鏡單元 物鏡(紫外、近紫外、可視、近紅外)

    緊湊輕量型顯微鏡,相機觀察型。適于

    檢測金屬表面、半導(dǎo)體、液晶面板、樹脂等。

    • 多種鏡體通常用作適用于專業(yè)器械的OEM

    (原廠委制) 產(chǎn)品,如那些利用YAG (近紅外、

    可見、近紫外或紫外) 激光* 對半導(dǎo)體晶片

    進行檢測和修補的設(shè)備。

    * 不保證激光系統(tǒng)產(chǎn)品的性能和安全性。

    應(yīng)用:切割、修整、校正、 給半導(dǎo)體電路做

    標記/ 薄膜(絕緣膜) 清潔與加工、液晶彩色

    濾光器的修復(fù) (校正錯誤)。還可用作光學(xué)觀

    察剖面圖以便探頭分析半導(dǎo)體故障。

    • 對于VMU-LB 和 VMU-LB, 顯微鏡主件的剛度

    和總體性能與之前的型號相比已有所提高。

     

    • 應(yīng)用*: 晶體硅的內(nèi)部觀察、紅外光譜特征

    分析等。

    * 需要紅外光源和紅外攝像機。

    • 配有孔徑光闌的遠心光學(xué)系統(tǒng)是表面照明

    光學(xué)系統(tǒng)上的標準配件。于需要均勻

    照明的圖像處理。可用于尺寸測量、形狀

    檢驗、定位等。

    • 設(shè)計和制造均能滿足您的需求,如雙攝影

    機架、雙(低/ 高) 放大率觀察

     VMU-V

     378-505

     

    Mitutoyo三豐顯微鏡單元

    日本三豐物鏡(紫外、近紫外、可視、近紅外)

    用于半導(dǎo)體、電子、液晶相關(guān)等產(chǎn)品的生產(chǎn)

    品質(zhì)管理系統(tǒng)、實驗研究裝置使用的光學(xué)系統(tǒng)

    外觀檢查系統(tǒng)的嵌入式光學(xué)單元

    微生物等運動物體的觀察 等

     

     

     

     

    可安裝數(shù)碼相機,通過外部顯示器進行觀察和拍攝。

    可實現(xiàn)橫向水平、上下顛倒等高自由度的固定方法。

    與簡易支架一起使用,還可作為緊湊型顯微鏡使用。

     ★金屬、樹脂、印刷面等表面觀察拍攝

     ★微量流體分析用光學(xué)系統(tǒng)

     ★以觀察和分析細胞、微生物等為目的的光學(xué)系統(tǒng)

     

    M Plan Apo NIR系列等支持紅外區(qū)的物鏡組合,可在紅外線下實

    現(xiàn)可見光下做不到的非破壞性檢查。

     ★液晶薄膜、硅基板等的厚度測量

     ★MEMS內(nèi)部的非破壞評價、三維安裝評價

     ★半導(dǎo)體封裝(IC)的內(nèi)部觀察、晶圓鍵合空洞評價傳感器

     ★紅外分光特性分析

     

     

    通過VMU-LB和固定倍率觀察用相機卡口的

    組合,能夠?qū)ν晃恢靡圆煌堵释瑫r觀

    察。

    (低倍率側(cè):2/3型、高倍率側(cè):1/2型等)

     

    通過與YAG激光(1064nm、532nm、355nm、266nm)物鏡組合,可實現(xiàn)高精度、高

    品質(zhì)加工。

    與簡易支架一起使用,還可作為緊湊型顯微鏡使用。

     ★保護膜、有機薄膜等的剝離

     ★金、鋁等金屬配線切割、下層圖案的外露

     ★FPD的各種缺陷修正

     ★光掩模修正

     ★標記、修剪、圖像形成、局部退火、劃線

     

     

    憑借長動作距離設(shè)計的物鏡,實現(xiàn)優(yōu)異的操作性。

    與定位器、探針臺等組合。

    通過與激光加工裝置組合,還可支持不良分析→部分修正無縫銜接的系統(tǒng)。

    此外,還提供支持隔著玻璃的、真空內(nèi)的外觀檢查的系統(tǒng)

    日本三豐Mitutoyo 378-888-6物鏡M Plan Apo NUV HR 50X

    日本三豐Mitutoyo 378-868-5 50X物鏡M Plan Apo NIR B

    日本三豐Mitutoyo 378-867-5 20X物鏡M Plan Apo NIR B

    日本三豐Mitutoyo 378-864-5 100X物鏡M Plan Apo NIR HR

    日本三豐Mitutoyo 378-863-5 50X物鏡M Plan Apo NIR HR

    日本三豐Mitutoyo 378-848-3 50X物鏡G Plan Apo

    日本三豐Mitutoyo 378-847 20X物鏡G Plan Apo

    日本三豐Mitutoyo 378-846-7 100X物鏡BD Plan Apo HR

    日本三豐Mitutoyo 378-845-7 50X物鏡BD Plan Apo HR

    日本三豐Mitutoyo 378-844-15物鏡M Plan UV 10X

    日本三豐Mitutoyo 378-843-7 100X物鏡BD Plan Apo SL

    日本三豐Mitutoyo 378-843-5 100X物鏡BD Plan Apo SL

    日本三豐Mitutoyo 378-842-7 80X物鏡BD Plan Apo SL

    日本三豐Mitutoyo 378-841-7 50X物鏡BD Plan Apo SL

    日本三豐Mitutoyo 378-840-7 20X物鏡BD Plan Apo SL

    日本三豐Mitutoyo 378-840-5 20X物鏡BD Plan Apo SL

    日本三豐Mitutoyo 378-839-5物鏡M Plan UV 80X

    日本三豐Mitutoyo 378-838-8物鏡M Plan UV 50X

    日本三豐Mitutoyo 378-837-8物鏡M Plan UV 20X

    日本三豐Mitutoyo 378-837-7物鏡M PLAN UV BF 20X

    日本三豐Mitutoyo 378-836-7 100X物鏡BD Plan Apo

    日本三豐Mitutoyo 378-835-7 50X物鏡BD Plan Apo

    日本三豐Mitutoyo 378-834-7 20X物鏡BD Plan Apo

    日本三豐Mitutoyo 378-833-7 10X物鏡BD Plan Apo

    日本三豐Mitutoyo 378-832-7 5X物鏡BD Plan Apo

    日本三豐Mitutoyo 378-831-7 2X物鏡BD Plan Apo

    日本三豐Mitutoyo 378-830-7 7.5X物鏡BD Plan Apo

    日本三豐Mitutoyo 378-829-5物鏡LCD Plan Apo NIR 100X

    日本三豐Mitutoyo 378-828-5物鏡LCD Plan Apo NIR 50X

    日本三豐Mitutoyo 378-827-5物鏡LCD Plan Apo NIR 20X

    日本三豐Mitutoyo 378-826-5物鏡M Plan Apo NIR 100X

    日本三豐Mitutoyo 378-824-5 20X物鏡M Plan Apo NIR

    日本三豐Mitutoyo 378-823-5 10X物鏡M Plan Apo NIR

     

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