日本電測膜厚計COSMOS-3X

X射線熒光膜厚度計COSMOS-3X

小空間和空間測量
極小部件，具有出色的可操作性和
精度

·采用雙濾波器實現(xiàn)精度，
在條件下進行測量·多任務功能可實現(xiàn)其他處理，包括在測量過程中創(chuàng)建報告
·準直器小值為0.05φmm，可測量極小部分

X射線熒光膜厚度計COSMOS-3X的特點

雙濾鏡采用

除數(shù)字濾波器外，機械濾波器（雙濾波器）可用于在件下進行測量，以便始終獲得精度。

完整的報告準備功能

通過采用MS-Windows軟件，您可以輕松捕獲測量屏幕并具有完整的報告創(chuàng)建功能。即使使用測量，多任務也可以進行其他處理，包括創(chuàng)建報告。

5種內(nèi)臟器官

準直器的小直徑為0.1φmm，可以測量極小的部件。標準·0.1,0.2,0.5,1.0,2.0 
另外，有兩種特殊規(guī)格可供選擇。
· 
0.05,0.1,0.2,0.3,0.5·0.05×0.5,0.5×0.05,0.1,0.2,0.5

自診斷功能和X射線管維護功能

自診斷功能可以快速解決設備故障。此外，還增加了X射線管使用時間和耐久時間顯示功能，以支持維護安全。

薄膜厚度測量期間的光譜顯示

使用多通道進行頻譜分析高速處理可實現(xiàn)對象的簡單操作和頻譜顯示。（處理速度約2-3秒）

顯示測量單位監(jiān)視器圖像

將X射線照射單元裝載在Windows屏幕上并顯示X射線照射單元。準直器使得可以改變放大率。

關(guān)于Be window X射線管（選項）的性能提高（高精度）

            我們?yōu)閄射線熒光膜厚度計EX-731準備了Be X射線管（可選）
            。通過使用該選項，
            可以在Cr測量和Ni測量中大大提高重復測量的精度。

            關(guān)于績效改進的說明

            高能量（高原子序數(shù)）Sn 
         的測量與以前相同，但是在測量低能量（低原子序數(shù)）Cr和Ni的情況下，取決于膜厚度，Cr超過3倍，Ni超過2倍或更多重復
         倒鉤精度有所改善。如果在兩個層測量表面層的Au是略中間
         層的Ni已經(jīng)由約20％提高接收貢獻的精度。熒光X射線法的厚度計
         在生成其中獲得的熒光X射線強度的過程中的情況下，重復測定精度（標準偏差）
         是由于統(tǒng)計波動確定的，施加成為窗口的X射線管（可選）
         由此可知，與以往的標準機相比，在Cr的情況下，獲得了約9倍以上的熒光X射線強度
         。因此，可以在短時間內(nèi)以與傳統(tǒng)相同的精度進行測量。
         請考慮使用此Be窗口X射線管。

測量屏幕

直方圖

X射線熒光膜厚度計COSMOS-3X的規(guī)格

注意：規(guī)格如有更改，恕不另行通知。

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