日本三高 SF SF-1150超聲波測(cè)厚儀

更新時(shí)間：2024-08-01

簡(jiǎn)要描述：

◆SF雙殼罐間隙存在的檢驗(yàn)，F(xiàn)RP的厚度測(cè)量
應(yīng)用程序使用
◆從殼板（FRP）的表面容易地檢測(cè)SF雙殼罐的殼壁中的檢測(cè)層的粘附和間隙。
◆用超聲波測(cè)量FRP的厚度
日本三高 SF SF-1150超聲波測(cè)厚儀

型號(hào)：廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商瀏覽量：797

品牌	SANKO/日本三高	產(chǎn)地類別	進(jìn)口

◆	SF雙殼罐間隙存在的檢驗(yàn)，F(xiàn)RP的厚度測(cè)量

應(yīng)用程序使用
◆	從殼板（FRP）的表面容易地檢測(cè)SF雙殼罐的殼壁中的檢測(cè)層的粘附和間隙。
◆	用超聲波測(cè)量FRP的厚度

產(chǎn)品規(guī)格

測(cè)量方法	脈沖反射法（一種探針?lè)ǎ?/td>
使用頻率	1至2 MHz
顯示方法	液晶數(shù)字（帶EL燈）
測(cè)量范圍	1.0至50.0 mm 模式自動(dòng)切換（標(biāo)準(zhǔn)/厚板）
測(cè)量精度	±0.1毫米
聲速調(diào)節(jié)范圍	500至9999米/秒
探頭蝕子	2C20N-DL型
電源	AA堿性電池（1.5 V）x 1 約12小時(shí)（EL點(diǎn)亮約8小時(shí)）
工作溫度范圍	-10至50°C（無(wú)冷凝）
尺寸重量	66（W）×180（H）×28（D）mm，360g

日本三高 SF SF-1150超聲波測(cè)厚儀日本三高 SF SF-1150超聲波測(cè)厚儀

◆	SF雙殼罐間隙存在的檢驗(yàn)，F(xiàn)RP的厚度測(cè)量

應(yīng)用程序使用
◆	從殼板（FRP）的表面容易地檢測(cè)SF雙殼罐的殼壁中的檢測(cè)層的粘附和間隙。
◆	用超聲波測(cè)量FRP的厚度

產(chǎn)品規(guī)格

測(cè)量方法	脈沖反射法（一種探針?lè)ǎ?/span>
使用頻率	1至2 MHz
顯示方法	液晶數(shù)字（帶EL燈）
測(cè)量范圍	1.0至50.0 mm 模式自動(dòng)切換（標(biāo)準(zhǔn)/厚板）
測(cè)量精度	±0.1毫米
聲速調(diào)節(jié)范圍	500至9999米/秒
探頭蝕子	2C20N-DL型
電源	AA堿性電池（1.5 V）x 1 約12小時(shí)（EL點(diǎn)亮約8小時(shí)）
工作溫度范圍	-10至50°C（無(wú)冷凝）
尺寸重量	66（W）×180（H）×28（D）mm，360g